您的位置: 专家智库 > >

张方方

作品数:6 被引量:0H指数:0
供职机构:上海大学更多>>

文献类型

  • 6篇中文专利

主题

  • 2篇信号
  • 2篇信号通道
  • 2篇氧化硅
  • 2篇频率测试
  • 2篇芯片
  • 2篇量子
  • 2篇量子点
  • 2篇晶体
  • 2篇刻蚀
  • 2篇空气柱
  • 2篇快速傅立叶变...
  • 2篇激光
  • 2篇激光刻蚀
  • 2篇激光能
  • 2篇激光能量
  • 2篇光刻
  • 2篇光能量
  • 2篇光子
  • 2篇光子晶体
  • 2篇汉宁窗

机构

  • 6篇上海大学

作者

  • 6篇李冬梅
  • 6篇张方方
  • 4篇李杰
  • 2篇杨伟光
  • 2篇王刚
  • 2篇马磊
  • 2篇黄璐
  • 2篇史伟民
  • 2篇杨柳
  • 2篇沈春夏
  • 2篇刘功龙
  • 1篇程涛

年份

  • 1篇2019
  • 1篇2018
  • 3篇2016
  • 1篇2015
6 条 记 录,以下是 1-6
排序方式:
ZnTe/ZnSe核壳型量子点及其制备方法
本发明涉及一种ZnTe/ZnSe核壳型量子点及其制备方法。该量子点是以ZnTe为核,在其表面修饰ZnSe;所述的ZnTe核的粒径为5nm左右;所述的核与壳的质量比为:1:2。本发明制备的ZnTe/ZnSe量子点具有稳定性...
李冬梅黄凯翔张方方李杰杨柳程涛
文献传递
CdZnTe:Eu量子点的水相制备方法
本发明涉及一种CdZnTe:Eu量子点的水相制备方法。该方法首先利用硼氢化钠(NaBH<Sub>4</Sub>)和碲粉反应制备碲氢化钠(NaHTe),然后将硒氢化钠注入到用氢氧化钠调节好PH的硝酸锌/硝酸镉、巯基乙酸溶液...
李冬梅黄凯翔张方方李杰杨柳
文献传递
SOC芯片频率测试方法
本发明公开了一种SOC芯片频率测试方法,使用ATE测试芯片时钟系统,芯片通过测试端口传输信号到信号通道,然后再传输到ATE中进行测试。这样每个测试信号对应一个信号通道。对测试结果比特化,得到测试数据。启用ATE上HRAM...
李冬梅王刚黄凯翔张方方李杰
文献传递
基于激光刻蚀空气柱二维光子晶体的制备方法
本发明公开了一种基于激光刻蚀空气柱二维光子晶体的制备方法,属制备光子晶体技术领域。本发明主要通过控制膜的厚度、孔径大小和孔间隙,来调节反射的颜色的不同。本发明是通过磁控溅射的方法在硅(Si)衬底上沉积铬(Cr)层和氧化硅...
张方方李冬梅杨伟光黄璐沈春夏马磊刘功龙史伟民
文献传递
SOC芯片频率测试方法
本发明公开了一种SOC芯片频率测试方法,使用ATE测试芯片时钟系统,芯片通过测试端口传输信号到信号通道,然后再传输到ATE中进行测试。这样每个测试信号对应一个信号通道。对测试结果比特化,得到测试数据。启用ATE上HRAM...
李冬梅王刚黄凯翔张方方李杰
文献传递
基于激光刻蚀空气柱二维光子晶体的制备方法
本发明公开了一种基于激光刻蚀空气柱二维光子晶体的制备方法,属制备光子晶体技术领域。本发明主要通过控制膜的厚度、孔径大小和孔间隙,来调节反射的颜色的不同。本发明是通过磁控溅射的方法在硅(Si)衬底上沉积铬(Cr)层和氧化硅...
张方方李冬梅杨伟光黄璐沈春夏马磊刘功龙史伟民
文献传递
共1页<1>
聚类工具0