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郑万国

作品数：29 被引量：0H指数：0
供职机构：哈尔滨工业大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 29篇中文专利

领域

  • 14篇自动化与计算...

主题

  • 15篇工程光学
  • 14篇光学
  • 14篇光学元件
  • 11篇图像
  • 11篇大口径
  • 9篇元件
  • 6篇物距
  • 5篇曲面
  • 5篇缺陷修复
  • 5篇微缺陷
  • 5篇大口径光学元...
  • 4篇迁移
  • 4篇自动化
  • 4篇自动聚焦
  • 4篇机床
  • 4篇机床坐标系
  • 4篇工位
  • 4篇工艺方法
  • 4篇目标点
  • 3篇大行程

机构

  • 29篇哈尔滨工业大...

作者

  • 29篇陈明君
  • 29篇袁晓东
  • 29篇郑万国
  • 29篇赵林杰
  • 28篇王海军
  • 27篇廖威
  • 23篇程健
  • 6篇廖然
  • 3篇李省伟

年份

  • 5篇2024
  • 5篇2023
  • 13篇2022
  • 1篇2017
  • 2篇2016
  • 3篇2015
共 29 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
大口径熔石英光学元件表面微缺陷的自动化激光修复方法
大口径熔石英光学元件表面微缺陷的自动化激光修复方法，涉及工程光学技术领域，用以解决现有修复方法存在自动化程度低且效率低下的问题。本发明的技术要点包括：根据元件表面缺陷区域的位置信息和尺寸信息确定修复策略；依据修复策略，利...
陈明君尹朝阳赵林杰程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
一种基于卷积神经网络的光学元件快速暗场检测方法
一种基于卷积神经网络的光学元件快速暗场检测方法，涉及光学元件检测技术领域，用以解决现有技术中对于大口径元件表面缺陷识别的准确率和效率较低的问题。本发明的技术要点包括：在暗场环境下对元件表面进行扫描采集，并调整曝光值，获得...
陈明君李小涛尹朝阳赵林杰程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
大口径曲面光学元件表面微缺陷修复用快速装夹随行夹具装置
大口径曲面光学元件表面微缺陷修复用快速装夹随行夹具装置，涉及一种随行夹具。解决了现有光学元件随行夹具装置存在夹持不稳定、易划伤光学元件且夹持过程耗时的问题。本发明的夹具框体为矩形框架，夹具框体的底边框的下表面设有两个定位...
陈明君赵林杰郑万国袁晓东廖然王海军廖威
文献传递
一种大口径元件的位姿自动确定方法
一种大口径元件的位姿自动确定方法，涉及工程光学技术领域，用以解决由于机床上元件夹具的定位精度有限导致元件位姿不确定的问题。本发明的技术要点包括：对机床上当前位姿的元件采集多个图像，并对多个图像进行处理，获得元件上任意点相...
赵林杰陈明君尹朝阳程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
文献传递
大口径曲面光学元件微缺陷修复用可微调显微检测装置
大口径曲面光学元件微缺陷修复用可微调显微检测装置,涉及一种曲面微缺陷检测装置。解决了大口径光学元件表面微缺陷的快速识别的定位精确度差的问题。本发明的暗场检测单元对熔石英光学元件曲面上的所有缺陷进行全口径扫描，并对扫描的微...
陈明君赵林杰王海军郑万国廖威袁晓东廖然
一种大口径元件的位姿自动确定方法
一种大口径元件的位姿自动确定方法，涉及工程光学技术领域，用以解决由于机床上元件夹具的定位精度有限导致元件位姿不确定的问题。本发明的技术要点包括：对机床上当前位姿的元件采集多个图像，并对多个图像进行处理，获得元件上任意点相...
赵林杰陈明君尹朝阳程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
一种大口径元件表面微缺陷检测与修复的自动化工艺方法
一种大口径元件表面微缺陷检测与修复的自动化工艺方法，涉及工程光学技术领域，用以解决现有技术对于大口径元件表面微缺陷的检测精度低和修复效率低的问题。本发明的技术要点包括：利用暗场相机采集元件表面图像并处理，实现对元件表面多...
陈明君赵林杰尹朝阳程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
基于深度学习和图像处理的光学元件表面损伤识别方法
基于深度学习和图像处理的光学元件表面损伤识别方法，涉及元件表面损伤识别技术领域，用以解决现有技术中对于大口径元件表面损伤识别准确率较低的问题。本发明的技术要点包括：提出了光学元件表面缺陷和污染物数据的自动采集和标注方法，...
陈明君尹朝阳赵林杰程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
文献传递
一种基于卷积神经网络的表面微缺陷检测方法及装置
一种基于卷积神经网络的表面微缺陷检测方法及装置，涉及机器学习技术领域，用以解决现有技术对于元件表面缺陷的检测准确率不高且自动识别效率不高的问题。本发明的技术要点包括：采集获取多个元件表面缺陷区域的图像作为图像训练集；对训...
赵林杰陈明君尹朝阳程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
文献传递
一种用于表面微缺陷定位与识别的三光源显微系统装置
本发明公开了一种用于表面微缺陷定位与识别的三光源显微系统装置，解决了目前的检测方法无法一次获得在不同光源照射条件下的微缺陷图像，缺陷检测准确率低，可检测缺陷的尺寸范围小，光源安装占用空间大，采集的缺陷图像较为单一，难以准...
赵林杰陈明君林志宇尹朝阳程健袁晓东郑万国廖威王海军张传超
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