梅博
- 作品数:48 被引量:26H指数:3
- 供职机构:中国空间技术研究院更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金更多>>
- 相关领域:电子电信自动化与计算机技术航空宇航科学技术核科学技术更多>>
- 核与空间辐射效应模拟试验技术研究被引量:1
- 2023年
- 在天然与人为辐射环境中,辐射可能在电子器件中引发瞬时电离、单粒子、位移损伤、总剂量等多种辐射效应,导致器件性能退化、功能异常、故障甚至损毁,是制约电子器件及所属系统长期、稳定、可靠工作的关键.核与空间辐射效应模拟试验技术是抗辐射加固的基础,可用于研究辐射效应机理、检验抗辐射加固方法有效性,是提升电子器件和系统抗辐射能力不可或缺的重要手段.本文从瞬时电离辐射效应模拟试验技术、空间单粒子效应模拟试验技术、位移损伤效应模拟试验技术、总剂量效应模拟试验技术四个方面出发,梳理了辐射效应研究和模拟试验装置现状,结合微电子工艺的发展趋势,分析提炼需要重点关注的科学问题与技术问题,为抗辐射加固技术创新发展提供参考.
- 陈伟陈伟马武英罗尹虹丁李利马武英刘岩王晨辉姚崇斌丁李利郭晓强王祖军吴伟
- 一种基于电流监测的3D NAND存储器辐照效应测试装置及方法
- 在实际工程测试中,一般采用外接的直流电源分析仪来对器件的电流进行实时监测,体积笨重且价格昂贵,而且还需要外接复杂的线缆,杂乱无序,不利于实际试验的开展。为解决器件实际测试过程中遇到的工程问题,本发明提出了一种基于电流监测...
- 郑雪松莫日根王亚男王博吉俐杨智博张雷浩王文炎梅博
- 一种SiC MOSFET器件总剂量效应试验方法
- 本发明涉及一种SiC MOSFET器件总剂量效应试验方法,主要应用于SiC MOSFET总剂量效应试验。本发明可以解决SiC MOSFET的总剂量试验问题,实现了对SiC MOSFET复杂总剂量效应的验证,在试验过程中,...
- 于庆奎王贺曹爽孙毅梅博吕贺莫日根王乾元孙佳佳张洪伟
- 一种宇航用模拟开关备份特性试验方法
- 本发明公开了一种宇航用模拟开关备份特性试验方法,提出了基于备份应用验证电路的4种试验方法,覆盖了模拟开关在航天器中的实际应用状态,获得宇航用模拟开关电路的备份功能特性。本发明提出的宇航用模拟开关电路备份特性验证试验方法及...
- 莫日根梅博张洪伟马镇孙毅魏志超曹爽吕贺
- FinFET器件单粒子翻转物理机制研究评述
- 2024年
- 鳍式场效应晶体管(FinFET)器件由于其较高的集成度以及运算密度,已成为未来航天应用领域的重要选择。FinFET器件的辐射敏感性与其制作工艺和工作条件息息相关。为了解FinFET器件的单粒子翻转(SEU)敏感机制,文章结合国内外开展的相关研究,从SEU机理出发,分析了器件特征尺寸、电源电压和入射粒子的线性能量传输(LET)值等不同条件对器件SEU敏感性的影响,最后结合实际对FinFET器件SEU的研究发展方向进行展望。
- 王仕达张洪伟唐民唐民梅博
- 关键词:单粒子翻转静态随机存取存储器
- 一种电子器件背面开孔减薄装置及减薄方法
- 本发明公开了一种电子器件背面开孔减薄装置及减薄方法,包括:圆台固定夹具、升降载物台、纵向可伸缩旋转连杆、磨抛钻头、锁紧旋钮、传感器、传动皮带、电动马达、程控单元、数据传输线、连杆外壳和连杆弹簧;圆台固定夹具具有直角卡槽;...
- 梅博魏志超罗磊于庆奎张洪伟唐民
- 文献传递
- 一种抗单粒子烧毁效应整流二极管及其加固制备方法
- 本发明提供一种抗单粒子烧毁效应整流二极管及其加固制备方法,旨在提升航天器用高压快恢复整流二极管抗辐照能力,为新一代航天器提供元器件保障。针对高能粒子辐照下高压快恢复整流二极管容易在主结边缘处形成失效点这一现象,本发明提出...
- 莫日根廖新芳梅博袁强于庆奎孙毅吕贺范晓明
- 文献传递
- 一种轮换式交替访问3D NAND存储器可靠性并行测试方法
- 在实际开展存储器可靠性试验时,为了减少测试时间及成本,本发明提出一种基于高性能FPGA的3D NAND可靠性并行测试方法,利用FPGA并行处理能力,同时向多个3D NAND发送读、写等命令信号,并获取3D NAND在接收...
- 郑雪松王亚男莫日根王博吉俐杨智博张雷浩王文炎梅博
- 一种电子器件背面开孔减薄装置
- 本实用新型公开了一种电子器件背面开孔减薄装置包括:圆台固定夹具、升降载物台、纵向可伸缩旋转连杆、磨抛钻头、锁紧旋钮、传感器、传动皮带、电动马达、程控单元、数据传输线、连杆外壳和连杆弹簧;圆台固定夹具具有直角卡槽;升降载物...
- 梅博魏志超罗磊于庆奎张洪伟唐民
- 文献传递
- 一种低剂量率辐照损伤增强效应判定方法
- 一种低剂量率辐照损伤增强效应判定方法,包括步骤:1)获得所述待测试对象辐照前的电参数测试结果;2)制作成多个辐照试验线路板,分别进行不同剂量率、不同偏置的电离辐照试验,获得多个辐照剂量点的电参数测试结果;3)确定所述待测...
- 吕贺李鹏伟孙明张洪伟梅博于庆奎李兴冀杨剑群
- 文献传递