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张广伟

作品数：5 被引量：0H指数：0
供职机构：中国航空工业集团公司更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 5篇中文专利

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 5篇红外
  • 3篇热像仪
  • 3篇红外热像
  • 3篇红外热像仪
  • 2篇挡板
  • 2篇硬件
  • 2篇硬件系统
  • 2篇软硬件
  • 2篇软硬件系统
  • 2篇温度
  • 2篇非均匀
  • 2篇非均匀校正
  • 2篇非均匀性
  • 1篇电路
  • 1篇电路性能
  • 1篇信号
  • 1篇视场
  • 1篇探测器
  • 1篇图像
  • 1篇图像处理

机构

  • 5篇中国航空工业...

作者

  • 5篇张广伟
  • 4篇朱寅非
  • 3篇王凯
  • 3篇孙小亮
  • 2篇汪江华
  • 1篇万敏
  • 1篇潘晓东
  • 1篇赵菲菲
  • 1篇石鹏

年份

  • 2篇2020
  • 1篇2019
  • 1篇2018
  • 1篇2016
共 5 条 记 录，以下是 1-5
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排序方式：
一种制冷型三视场红外热像仪
本发明涉及一种制冷型三视场红外热像仪，包括红外光学系统和探测器成像组件；红外光学系统的F数为4，该光学系统的窄视场焦距为137mm、中视场焦距为55mm、宽视场焦距为23mm；该光学系统包括同光轴依次设置的物镜、变倍镜、...
赵菲菲万敏张广伟石鹏潘晓东
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温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法
本发明涉及一种温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法，将温度可变辐射材料引入红外成像领域，在红外热像仪工作环境温度变化后，使用红外辐射基于温度变化的材料，保证非均匀校正时，校正挡板响应在两点校正线性区。在不增...
张广伟徐华楠孙小亮王凯朱寅非汪江华
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一种针对线列探测器坏元检测的方法
本发明涉及一种针对线列探测器坏元检测的方法，属于图像处理技术领域。该技术结合时域法和窗口法，实现线列型红外探测器的坏元检出。该方法原理简单，能够有效检测出线列型红外探测器中的坏元，降低误检率。
徐华楠朱寅非孙晓燕张广伟
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一种红外处理ADC电路性能比测方法
本发明涉及一种红外处理ADC电路性能比测方法,使被测红外处理ADC电路与标准红外处理ADC电路对同一信号源进行采集，对比分析两个被测ADC电路与标准ADC电路测试结果，进而客观评价被测红外处理ADC电路性能与标准红外处理...
张广伟孙小亮王凯朱寅非
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温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法
本发明涉及一种温度可变辐射材料的红外热像仪非均匀校正挡板测试方法，将温度可变辐射材料引入红外成像领域，在红外热像仪工作环境温度变化后，使用红外辐射基于温度变化的材料，保证非均匀校正时，校正挡板响应在两点校正线性区。在不增...
张广伟徐华楠孙小亮王凯朱寅非汪江华
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