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蒋正龙

作品数：1 被引量：8H指数：1
供职机构：华中科技大学更多>>
相关领域：电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电气工程

主题

  • 1篇电容
  • 1篇电容器
  • 1篇使用寿命
  • 1篇脉冲电容器
  • 1篇击穿
  • 1篇击穿试验

机构

  • 1篇华中科技大学

作者

  • 1篇姚宗干
  • 1篇林福昌
  • 1篇代新
  • 1篇蒋正龙

传媒

  • 1篇高电压技术

年份

  • 1篇1998
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
全膜脉冲电容器寿命特性的试验研究被引量：8
1998年
研究了充电电压、振荡放电时的反峰电压、压紧系数等对全膜脉冲电容器寿命特性的影响。对全膜脉冲电容器试品的击穿点进行了解剖分析，并探讨了由于电弱点和引线片电接触对绝缘的影响及其造成的击穿。
代新蒋正龙林福昌姚宗干
关键词：脉冲电容器使用寿命电容器击穿试验
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共1页<1>
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