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杨文龙

作品数:2 被引量:2H指数:1
供职机构:复旦大学信息科学与工程学院专用集成电路与系统国家重点实验室更多>>
发文基金:国家科技重大专项更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇单粒子
  • 2篇单粒子翻转
  • 2篇抗辐射
  • 1篇阵列
  • 1篇软错误
  • 1篇现场可编程
  • 1篇现场可编程门...
  • 1篇门阵列
  • 1篇可编程门阵列
  • 1篇计算机
  • 1篇计算机辅助设...
  • 1篇辅助设计
  • 1篇SRAM
  • 1篇FPGA
  • 1篇布线

机构

  • 2篇复旦大学

作者

  • 2篇王伶俐
  • 2篇陈丽
  • 2篇杨文龙
  • 1篇缪斯
  • 1篇王颖

传媒

  • 1篇计算机工程
  • 1篇计算机工程与...

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
一种FPGA抗辐射布线算法设计
2011年
随着集成密度的增大以及工作电压的降低,基于SRAM的FPGA芯片更加容易受到单粒子翻转的影响。提出了一种基于通用布局布线工具VPR的抗辐射布线算法,通过改变相关布线资源节点的成本函数,来减少因单粒子翻转引起的桥接错误,并与VPR比较下板测试结果。实验结果表明,该布线算法可以使芯片的容错性能提升20%左右,并且不需要增加额外的硬件资源或引入电路冗余。
陈丽缪斯杨文龙王伶俐
关键词:单粒子翻转布线
基于SRAM结构的FPGA抗辐射布局算法被引量:2
2012年
分析由辐射造成的单粒子翻转(SEU)软错误,在通用布局布线工具的基础上,提出一种基于SRAM结构的现场可编程门阵列(FPGA)抗辐射布局算法。该算法通过优化电路单元在FPGA中的布局位置,减少布线资源开路敏感错误、短路敏感错误以及SEU敏感点的数目。测试结果表明,该算法能减少SEU软错误,提高FPGA的抗辐射性能,并且无需增加额外的设计成本和硬件开销。
杨文龙陈丽王伶俐王颖
关键词:现场可编程门阵列抗辐射计算机辅助设计单粒子翻转软错误
共1页<1>
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