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尉昊贇

作品数：3 被引量：1H指数：1
供职机构：清华大学更多>>
发文基金：清华大学自主科研计划更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇正交双通道
  • 2篇体全息
  • 2篇偏振
  • 2篇全息
  • 2篇全息光学
  • 2篇光学
  • 2篇光学数据存储
  • 2篇存储方法
  • 1篇氧化层
  • 1篇光谱
  • 1篇厚度测量
  • 1篇SI

机构

  • 3篇清华大学
  • 1篇中国计量科学...

作者

  • 3篇尉昊贇
  • 2篇邬敏贤
  • 2篇何树荣
  • 2篇金国藩
  • 2篇曹良才
  • 2篇何庆声
  • 1篇吴学健
  • 1篇张继涛
  • 1篇李岩
  • 1篇罗志勇

传媒

  • 1篇光电子．激光

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2006
  • 1篇2005
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
偏振正交双通道体全息光学数据存储方法及其系统
本发明涉及一种偏振正交双通道体全息光学数据的存储方法及其系统，属于光学存储领域。本发明的方法和系统利用正交光场不相干涉的特点及体全息记录固有的布拉格选择性，在具有各向同性特征的有机光致聚合物记录介质的同一位置中，实现两光...
何庆声尉昊贇曹良才何树荣金国藩邬敏贤
文献传递
基于光谱椭偏术的Si球表面氧化层厚度测量被引量：1
2011年
为改善X射线晶体密度法测得的阿伏伽德罗常数的标准不确定度,研制了一种基于光谱椭偏术和二维Si球扫描机构的Si球表面氧化层厚度自动扫描测量系统,用于测量直径约93.6 mm、质量约1 kg的单晶Si球表面氧化层平均厚度。用本文系统对标准Si球表面进行400点扫描测量实验,得到氧化层厚度分布,且测得其平均厚度为6.00(22)nm。测量结果可将由氧化层导致的阿伏伽德罗常数测量相对不确定度降低至2.5×10-8。
吴学健张继涛李岩罗志勇尉昊贇
关键词：氧化层
偏振正交双通道体全息光学数据存储方法及其系统
本发明涉及一种偏振正交双通道体全息光学数据的存储方法及其系统，属于光学存储领域。本发明的方法和系统利用正交光场不相干涉的特点及体全息记录固有的布拉格选择性，在具有各向同性特征的有机光致聚合物记录介质的同一位置中，实现两光...
何庆声尉昊贇曹良才何树荣金国藩邬敏贤
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