杜晓光
- 作品数：2 被引量：3H指数：1
- 供职机构：北京师范大学核科学与技术学院射线束技术与材料改性实验室更多>>
- 发文基金：北京市重点实验室更多>>
- 相关领域：理学机械工程环境科学与工程更多>>
- 应用MXRF分析技术测定植物叶片中环境元素被引量：3
- 2008年
- 应用一种使用X光透镜的微束X射线荧光(MXRF)分析技术,对北京不同地区的松针中重金属元素及S元素含量进行了测定和分析,探讨了它们与大气污染之间的关系;根据受损松针与正常松针检测结果的比较,确定了污染元素。对小叶黄杨叶片中部进行了二维微区自动扫描,得出了小叶黄杨叶片对各种金属元素的抗污染能力。研究结果从方法学上验证了使用X光透镜的MXRF分析技术在测量环境样品中的应用,为环境科研、污染治理和环境管理提供了科学依据。
- 初学莲林晓燕程琳孙洪波杜晓光丁训良
- 关键词：X光透镜植物叶片环境污染
- 掠出射微区X射线荧光分析系统的建立及其在薄膜分析中的应用
- 2009年
- 建立了应用导管X光透镜的掠出射微区X射线荧光分析系统,并将该系统应用于纳米薄膜的分析。为了提高入射X射线的强度并提高系统的空间分辨率,选用焦斑为41.7μm的会聚透镜对原级X射线进行会聚,并在探测器前加上50μm的狭缝以提高掠出射角扫描的角度分辨率。为了提高工作效率,编写了该系统的自动控制软件,实现了样品的自动扫描。利用该系统对采用金属蒸汽真空电弧(MEVVA)源离子束和薄膜沉积技术制备的纳米薄膜进行了掠入射X射线荧光和二维扫描分析。实验结果表明:该系统能有效地分析纳米厚度的薄膜,通过对薄膜进行掠出射角扫描分析和表面的二维扫描分析,得到了薄膜的厚度,密度及均匀性等信息。微区分析的空间分辨率可达到41.7μm,实际空间分辨率为扫描步长50μm。系统可用于分析薄膜样品,且荧光强度高,所需时间短,获得的信息全面丰富,数据可靠。
- 杨君刘志国徐清韩东艳林晓燕杜晓光Kouichi Tsuji丁训良
- 关键词：全反射
