高华
- 作品数:8 被引量:10H指数:2
- 供职机构:装甲兵工程学院控制工程系更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金中国人民解放军总装备部预研基金更多>>
- 相关领域:自动化与计算机技术更多>>
- STA400TEP芯片在模拟电路BIT设计中的应用研究
- 2012年
- 在大规模集成电路中,模拟信号的测试是一个重点和难点;介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线标准和支持IEEE1149.4标准的STA400TEP边界扫描芯片,对STA400芯片在模拟电路机内测试中的应用进行了研究,提出了一种基于子网络撕裂诊断法的边界扫描结构置入的测试性设计方法,并以某驱动电路为研究对象对此方法进行了实验验证,实验结果表明STA400TEP的置入能够实现电路板的可观性和可控性,能够准确地将故障定位到子网络中。
- 陈圣俭高华徐磊李广进魏子杰
- 关键词:模拟电路BIT
- 板级边界扫描测试多链优化配置方法研究
- 2012年
- 为提高边界扫描测试效率,提出一种多链边界扫描测试的优化配置方法,其主要思想是按照边界扫描器件内部边界扫描单元数目的多少将芯片分别配置到多条扫描链中以使扫描链的长度尽量相等,从而减少扫描周期;测试过程可分成多个阶段,每个阶段至少有一个芯片完成测试,完成测试的芯片置于旁路以缩短扫描链的长度;通过计算验证该方法能够缩短电路板的测试时间,提高了测试效率。
- 高华陈圣俭李广进魏子杰
- 关键词:板级电路
- 基于IEEE Std1500的IP核并行测试控制架构设计被引量:1
- 2012年
- 随着IEEE 1500标准的不断推广应用,兼容该标准的IP核也越来越多,具有IEEE 1500标准结构的IP核也被越来越多的应用到片上系统的设计中;由于IEEE 1500标准定义了外壳架构和测试访问机制,因此如何实现片上系统中IP核的外壳架构和测试访问机制的测试控制便成为研究的热点问题;文章在研究标准的基础上,基于外壳架构和CAS-BUS测试访问机制,提出IP核的并行测试控制架构,通过多IP核的仿真时序图分析,验证了测试控制架构的有效性;该架构能够实现多IP核的并行测试控制,节约了测试时间,提高了测试效率,为片上系统的测试控制提供一种新思路。
- 李广进陈圣俭牛金涛高华
- 关键词:IP核测试访问机制
- 基于网络视频监控的财务办公安防系统设计与实现
- 财务办公环境的安防问题是一个重要问题,当前一般是采用商用视频监控系统。本文提出了一种复合的网络视频监控系统方案,该方案同时融合了互联网、视频监控和现场总线技术。利用现场总线技术,把分布在财务室内的不同数量的温度、湿度传感...
- 王仕元朱晓兵高华
- 关键词:网络视频监控温湿度采集现场总线
- 文献传递
- 基于外壳架构与测试访问机制的数字芯核可测试性设计被引量:2
- 2012年
- 深亚徽米技术的应用以及芯核的嵌入性特点.使传统的测试方法不再能满足芯核测试的需要.IEEEStdl 500针对此问题提出了芯核的可测试性设计方案——外壳架构和测试访问机制.基于IEEE Stdl 500.以74373与741 38软梭为例,提出数字芯梭可测试性设计的方法,并通过多种指令仿真验证了设计的合理性;设计的TAM控制器复用JTAC-端口,节约了测试端口资源.提供了测试效率.
- 陈圣俭李广进高华
- 关键词:IEEE可测试性测试访问机制
- 基于网络视频监控的财务办公安防系统设计与实现
- 财务办公环境的安防问题是一个重要问题,当前一般是采用商用视频监控系统。本文提出了一种复合的网络视频监控系统方案,该方案同时融合了互联网、视频监控和现场总线技术。利用现场总线技术,把分布在财务室内的不同数量的温度、湿度传感...
- 王仕元朱晓兵高华
- 关键词:视频监控监控系统
- 数字IP核的IEEE Std1500外壳架构设计研究被引量:5
- 2012年
- IP核可测试性架构的多样性、互不兼容性给SoC的测试带来不便,IEEE Std1500针对此问题提出了一种标准的、可配置的可测试性架构,如何设计实现这种架构便成为SoC测试研究的热点问题.基于IEEE Std1500,利用边界扫描技术,结合自行设计的IP核,本文给出标准化架构的设计过程,利用quartus ii平台仿真验证了多种测试指令下设计的有效性.提出的外壳并行配置设计打破传统串行测试的局限性,为实现SoC中IP核的并行测试、缩短测试时间提供新的思路.
- 李广进陈圣俭牛金涛高华
- 关键词:IEEESOCIP核IEEE可测试性
- 基于边界扫描的单片机系统RAM芯片测试研究被引量:2
- 2011年
- 存储器具有存储容量大、集成度高以及工作速度快等特点,被广泛应用于现代电路设计中;在电路中,存储器能否正常工作,将直接影响整个系统工作状态是否稳定;为了提高系统的可靠性,对存储器进行可靠性测试是十分必要的;在介绍了存储器电路结构和故障的基础上,对某含有RAM存储器的CPU板进行了基于边界扫描的BIT测试性设计和改造,并对系统中的RAM芯片进行了测试性验证;实验结果表明,改造后的电路系统能够实现RAM自测试功能,且故障定位准确,达到了预期的设计目的,可有效提高系统的可靠性。
- 陈圣俭王蒙蒙王晋阳周银高华
- 关键词:RAM故障诊断