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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇一般工业技术

主题

  • 1篇电畴
  • 1篇自发极化
  • 1篇TIO
  • 1篇LA
  • 1篇PB

机构

  • 1篇电子科技大学
  • 1篇中国人民解放...

作者

  • 1篇王志红
  • 1篇黄惠东
  • 1篇张海力
  • 1篇黄嘉
  • 1篇白凡
  • 1篇郭晓华

传媒

  • 1篇电子显微学报

年份

  • 1篇2007
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
(Pb,La)TiO_3薄膜电畴生长的压电响应力显微镜研究被引量:3
2007年
压电响应力显微镜为铁电薄膜电畴的研究提供了一种有效的检测方法。本实验用压电响应力显微镜(PFM)对不同退火温度的(Pb,La)TiO3铁电薄膜进行表征,得到了各个样品相应的形貌像、面外电畴像和面内电畴像。结果表明,随退火温度升高,(Pb,La)TiO3铁电薄膜的表面形貌表现出从粘连到结晶较好,到出现抱团的变化过程;此外,随退火温度升高,铁电薄膜的自发极化强度先增强后减弱。通过对这一系列铁电薄膜电畴进一步研究得到:在625℃退火1 h后,(Pb,La)TiO3铁电薄膜以非铁电相为主;而在650℃和675℃退火1 h后,(Pb,La)TiO3铁电薄膜以铁电相为主。
张海力王志红黄惠东黄嘉白凡郭晓华
关键词:电畴自发极化
共1页<1>
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