您的位置： 专家智库 > >

章鹏

作品数：3 被引量：8H指数：1
供职机构：中国地质大学材料与化学学院更多>>
相关领域：电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电气工程

主题

  • 2篇电化学
  • 2篇循环性能
  • 2篇晶体
  • 2篇晶体结构
  • 2篇比容量
  • 2篇LIMN2O...
  • 1篇锰酸锂
  • 1篇内标
  • 1篇内标法
  • 1篇晶胞
  • 1篇晶胞参数
  • 1篇尖晶石
  • 1篇尖晶石型
  • 1篇尖晶石型锰酸...
  • 1篇TI
  • 1篇XRD
  • 1篇LI

机构

  • 3篇中国地质大学
  • 1篇华中科技大学

作者

  • 3篇何涌
  • 3篇章鹏
  • 2篇孙永明

传媒

  • 3篇电源技术

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 1篇2010
共 3 条 记 录，以下是 1-3
全选 清除 导出
排序方式：
一种精确测定尖晶石型锰酸锂晶胞参数的方法
2013年
大多数已发表的LiMn2O4尖晶石晶胞参数未经校正,不能定量揭示晶体的结晶程度、更不能直接对比。论述了一种以天然石英作为内标标准物质、通过粉晶X射线衍射光谱法(XRD)精确测定锰酸锂尖晶石晶胞参数的方法,测定的各种锰酸锂尖晶石的晶胞参数可以直接对比,能方便了解彼此晶体结构的差异及其对锰酸锂电化学性质的影响。
章鹏何涌
关键词：内标法XRD晶胞参数
Li类质同象替代对LiMn_2O_4结构及电化学性能的影响被引量：8
2010年
以燃烧法按不同Li/Mn比制备了一系列尖晶石LiMn2O4正极材料,并对其晶体结构及电化学性能进行了研究。根据样品的化学成分、晶胞参数、理论密度及真密度计算了它们的晶体化学式;发现随着Li/Mn比增加,锰酸锂材料晶体结构中的金属离子缺陷及氧缺陷增加。充放电循环测试结果表明:晶体结构中离子缺陷少的材料在低倍率放电时表现出相对高的比容量和差的循环性能;适量Li掺杂导致晶体结构中含一定离子缺陷的材料在高倍率放电时表现出较高的比容量和优异的循环性能。
孙永明何涌章鹏
关键词：LIMN2O4晶体结构比容量循环性能
Ti类质同象替代对LiMn_2O_4尖晶石电化学性能影响
2014年
以尿素脱硝法按不同配比制备了Ti掺杂锂锰尖晶石正极材料,并对其晶体结构及电化学性能进行了研究。Ti掺杂后样品仍能保持单一尖晶石相;Ti掺杂对材料的晶胞参数、真密度等晶体结构特征物理参数产生影响,进而影响了其电化学性能。充放电循环测试结果表明:Ti掺杂后样品的充放电循环性能,尤其在高倍率放电下比容量及充放电效率大大提高;按配比n(Li)∶n(Mn)∶n(Ti)=1∶1.95∶0.05制备的样品表现出最优异的比容量及循环性能。充放电循环对晶体结构完整性造成的破坏与放电倍率成正比,样品LiTi0.05Mn1.95O4具有相对稳定的晶体结构。
章鹏何涌孙永明
关键词：LIMN2O4晶体结构比容量循环性能
全选 清除 导出
共1页<1>
聚类工具0