邱忠文
- 作品数：20 被引量：23H指数：3
- 供职机构：中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术文化科学理学更多>>
- 适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具及测试方法
- 本发明涉及一种适用于片式电容的抗弯曲强度测试夹具及测试方法，包括底座，所述底座上水平设置有限制位挡板，所述限制位挡板上设置有支撑组件；所述底座上还设置有PCB板固定结构，所述PCB板固定结构上设置有PCB板，所述PCB板...
- 李胜玉罗俊邱忠文谭骁洪应广祺余航吴兆希蔡建荣岑政张玲
- 一种实现光耦电参数测试的方法研究被引量：1
- 2016年
- 本文介绍了用一种用AD5522微处理芯片设计的光耦集成测试系统,同时根据光耦电参数的特点,结合外围电路,讲解了光耦多种电参数测试的实现方法,用以快速、准确判别光耦电性能。通过加压测压和加流测压方法的实现,另外通过GBIP接口进行外挂测试仪表(如程控示波器、程控数字表)的控制,弥补测试系统测试资源和测量精度不足的缺陷。通过编写相应的测试程序指令,实现光耦测试条件的自动加载,同时对多个参数测试结果采样、记录、并自动生成测试数据库表格,从而可快速完成光耦全参数的测试,提高检测效率。
- 蔡建荣邱忠文吴兆希
- 关键词：光耦自动加载GPIB接口
- 一种半导体器件温度循环应力加速模型优选方法
- 本发明涉及一种半导体器件温度循环应力加速模型优选方法，属于集成电路领域。该方法为：利用循环应力对一组样品进行正常应力退化试验，同时利用提高的恒定温度循环加速应力对另外两组样品进行加速退化试验；每隔一定温循次数对样品敏感参...
- 吴兆希罗俊邱忠文
- 文献传递
- 硅通孔技术可靠性技术概述被引量：1
- 2023年
- 为了响应集成电路行业更高速、更高集成度的要求,硅通孔技术(ThroughSiliconVia,TSV)成为了半导体封装核心技术之一,解决芯片垂直方向上的电气和物理互连,减小器件集成尺寸,实现封装小型化。本文介绍了硅通孔技术的可靠性,包括热应力可靠性和工艺技术可靠性两方面。过大热应力可能会导致通孔侧壁粗糙,并影响内部载流子迁移率,从而使器件功能失效。可以通过采用热硅通孔、浅层沟槽隔离技术、合理调整通孔结构和深宽比来减小热应力。TSV工艺可靠性主要体现在通孔侧壁光滑程度和通孔导电材料填充效果,可通过循环氧化、在电镀液中加入抑制剂和加速剂以及熔融法进行改善。
- 刘倩邱忠文李胜玉
- 关键词：可靠性热应力
- 用于微小腔体电路内部气氛检测结果比对的双腔结构
- 本发明涉及质量与可靠性领域、检测技术研究领域，特别涉及一种用于微小腔体电路内部气氛检测结果比对的双腔结构，包括管壳和盖板，管壳使用间隔板隔断分离形成第一腔体和第二腔体，间隔板与外壁等高，且第一腔体与第二腔体共用一块盖板，...
- 谭骁洪李晓红罗俊邢宗锋张锋邓永芳邱忠文吴兆希林震朱朝轩杨迁
- 一种基于单片机的测试系统设计
- 2020年
- 本文介绍了一种运用STC单片机来控制继电器阵列,从而实现对多个分立器件或含有多个重复单元的小型集成电路进行测试的测试系统,文中阐述了该系统的组成结构和构建方法,并较为详细的说明了器件的参数的测试原理和测试过程,对解决类似分立器件或集成电路的测试问题解决有较为实用的意义。
- 蔡建荣邱忠文吴兆希赵茂霖
- 关键词：STC单片机分立器件测试系统集成电路
- 一种无外引出线芯片级器件测试平台及其使用方法
- 本发明属于自动化测试技术领域，特别是一种无外引出线芯片级器件测试平台；本平台包括导轨支架、探针组件、器件固定底板以及平台底座；导轨支架包括一个载物台、两根金属杆和U型框架，载物台活动设置在金属杆上，金属杆的一端与U型框架...
- 蔡建荣邱忠文秦国林罗俊吴兆希李晓红谭骁洪杨勇杨迁朱朝轩
- 文献传递
- 用于微小腔体电路内部气氛检测结果比对的双腔结构
- 本发明涉及质量与可靠性领域、检测技术研究领域，特别涉及一种用于微小腔体电路内部气氛检测结果比对的双腔结构，包括管壳和盖板，管壳使用间隔板隔断分离形成第一腔体和第二腔体，间隔板与外壁等高，且第一腔体与第二腔体共用一块盖板，...
- 谭骁洪李晓红罗俊邢宗锋张锋邓永芳邱忠文吴兆希林震朱朝轩杨迁
- 文献传递
- 高性能模拟集成电路检测技术
- 秦国林黎云浩蔡建荣高杰胡波罗俊林震邱忠文吴兆希邢宗锋
- 该成果对模拟集成电路测试开发过程中交流参数测试的现状和测试方法进行深入总结，对运算放大器、A/D转换器、D/A转换器、可编程增益放大器等四大类高性能模拟集成电路的交流参数定义进行分类，对传统交流参数测试方法与基于数字信号...
- 关键词：
- 关键词：模拟集成电路
- 高可靠DC-DC混合电源长寿命评价技术研究被引量：7
- 2012年
- 随着科学技术的发展、设计和制造水平的大幅度提高,高可靠长寿命DC-DC混合电源产品在军事及航空航天领域应用越来越广泛,如何预测其寿命是值得深入研究的重要问题。采用加速退化试验方法,对一款高可靠DC-DC混合电源进行可靠性评价与寿命预测。此研究成果对解决高可靠性电源产品的可靠性保证和寿命预测问题具有很好的工程意义。
- 李晓红罗俊邱忠文胡波邹华昌邓永芳
- 关键词：长寿命可靠性评估加速退化试验
