汪静
- 作品数：5 被引量：5H指数：2
- 供职机构：合肥工业大学计算机与信息学院更多>>
- 发文基金：国家教育部博士点基金国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术更多>>
- 一种容忍老化的多米诺门被引量：2
- 2012年
- 负偏置温度不稳定性引起的晶体管老化已经成为影响集成电路可靠性的重要因素。高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路,而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延。本文提出了保持器和反相器均带有补偿晶体管的多米诺或门结构,通过开启补偿电路,使电路在老化以后仍然能够保持其抗干扰能力和传输延时,有效的延长了多米诺电路的使用寿命。
- 徐辉梁华国黄正峰汪静李志杰李扬严鲁明
- 关键词：多米诺电路保持器
- 一种可配置的老化预测传感器设计被引量：3
- 2013年
- 随着工艺尺寸的缩减,老化导致的电路不稳定现象越来越严重。由于NBTI效应造成的老化是渐进的,因此老化是可预测的。由此提出了一种具有可配置延迟单元的老化预测电路,并将其中的稳定性校验器和锁存器的功能进行了整合。在老化的不同时期,针对老化程度,动态调节延迟单元的延迟大小,得到不同的保护带宽度,从而提高老化预测的准确率。并通过反馈电路达到对稳定性校验器的输出进行锁存的目的。与经典结构相比,电路在面积上平均节省20.6%左右,在功耗方面减少36%左右。Spice模拟器的仿真结果证实了电路的优越性。
- 梁华国汪静黄正峰李志杰徐辉李扬
- 关键词：可配置反馈电路
- 一种消除浮空点的多功能稳定性检测器被引量：1
- 2013年
- 随着纳米工艺的不断发展,可靠性成为集成电路设计中主要的挑战,特别是像航空,航天和军事等高科技领域。在深亚微米工艺中,老化效应和软错误是影响电路可靠性的重大因素,业界虽已对此做过研究,但是大部分都是把它们分开处理,它们中的大多数结构工作时都存在一个或多个点处于浮空态,存在严重的电荷衰减问题,尤其易受干扰,大大影响了检测结果的准确性。本文提出一种新的机制,采用一种低功耗的多功能稳定性检测器来同时解决老化,软错误和延迟故障,特别是它彻底解决了浮空点问题。利用Hspice仿真工具得到的实验结果表明该结构具有良好的性能和面积权衡,其功耗开销比参照结构节约超过35%。
- 黄正峰李志杰梁华国汪静徐辉常郝
- 关键词：可靠性
- 一种多故障稳定性检测器的研究
- 工艺尺寸的不断缩减，使电路的可靠性面临着严峻的挑战，提高系统可靠性成为设计者面临的主要问题。为此，本文提出了一种多故障检测结构MFSC，并改进了相应的检测结果区分方法，可同时在线检测软错误、延迟故障并可以进行老化失效预测...
- 汪静黄正峰李志杰徐辉梁丽波梁华国
- 关键词：检测器可靠性分析
- 检测老化的自适应可配置时序单元
- 针对晶体管老化日益严重导致性能降级，并最终出现可靠性问题的现状，提出了一种能够检测老化并且可以随着老化程度而自适应的时序单元ASCSE。该结构利用可配置的脉冲式锁存器，分为两种工作模式：检测老化模式和容忍老化模式。通过在...
- 李志杰秦晨飞黄正峰汪静徐辉常郝梁华国
- 关键词：晶体管老化现象自适应控制
