随着大规模数字电路系统复杂度的不断提高,系统内部芯片与芯片之间互联故障测试性越来越重要。基于边界扫描的可测性(Design For Test,DFT)设计技术是提高大规模数字电路系统测试性的一种重要手段,但传统的可测性设计方法需要将测试设备通过测试总线连接到待测系统上。然而,测试总线的长度总是有限的,限定了该技术的应用场合。针对该问题,在已有研究基础上,对DFT设计技术进行改进,提出了一种远程可测性设计技术(Remote Design For Test,RDFT),实现了大规模数字电路系统的远程一键式互连故障诊断,进一步降低了测试复杂度。
