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温秀芝

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：华东师范大学信息科学技术学院更多>>
发文基金：上海市科学技术委员会资助项目更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇亚微米
  • 1篇亚微米工艺
  • 1篇亚微米器件
  • 1篇深亚微米
  • 1篇深亚微米工艺
  • 1篇深亚微米器件
  • 1篇微米
  • 1篇微米工艺
  • 1篇芯片

机构

  • 1篇华东师范大学

作者

  • 1篇曹福全
  • 1篇石艳玲
  • 1篇刘婧
  • 1篇温秀芝

传媒

  • 1篇微电子学

年份

  • 1篇2008
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
深亚微米工艺下芯片的差分静态电流测试分析
2008年
在分析深亚微米工艺下芯片的差分静态电流(ΔIddq)测试原理的基础上,提出了一套深亚微米工艺下芯片的ΔIddq辅助测试解决方案。通过样本芯片,检验了ΔIddq测试方法的有效性;并根据检验结果,提出了Δ归一化的改进技术。经验证,这种优化后的ΔIddq辅助测量技术可有效筛选出功能测试不能覆盖的故障类型,提高了测试覆盖率。
曹福全石艳玲陈哲甘甜温秀芝刘婧
关键词：深亚微米器件
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共1页<1>
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