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薛浩

作品数:3 被引量:9H指数:2
供职机构:厦门大学更多>>
发文基金:中央高校基本科研业务费专项资金国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信电气工程更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 2篇功率
  • 1篇应力
  • 1篇荧光粉
  • 1篇特性分析
  • 1篇热阻
  • 1篇功率型
  • 1篇功率型LED
  • 1篇光电
  • 1篇光电倍增管
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱仪
  • 1篇光热
  • 1篇光衰
  • 1篇高温
  • 1篇暗电流
  • 1篇白光
  • 1篇白光LED
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体照明
  • 1篇倍增管

机构

  • 3篇厦门大学

作者

  • 3篇薛浩
  • 2篇朱丽虹
  • 2篇吕毅军
  • 2篇陈国龙
  • 2篇陈忠
  • 1篇张纪红
  • 1篇郭自泉
  • 1篇林岳
  • 1篇高玉琳
  • 1篇蔡聪波

传媒

  • 1篇光电子.激光
  • 1篇现代显示

年份

  • 3篇2012
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
功率型LED在大应力下的特性分析
半导体照明是目前国家重点扶持的新兴技术,大功率LED是半导体照明的关键器件。目前LED实际寿命和理论寿命(10万小时)仍有不小差距,这是由于器件材料、结构、工艺、封装等环节的缺陷,因此在研究LED新的工艺以及结构的同时,...
薛浩
关键词:半导体照明
基于Spectro320e光谱仪的白光LED荧光粉性能测试被引量:3
2012年
我国LED产业发展非常迅速,稀土钇铝石榴石(YAG)系列荧光粉广泛应用于白光LED。德国Instrument Systems公司的Spectro320e光谱仪适合光谱的精确测量,文章结合Spectro320e和远方公司的PE-5荧光粉激发装置,实现蓝光激发下黄色YAG荧光粉的色品坐标、相对亮度、量子效率等参数精确的测试,研究了仪器在不同的测试条件如暗电流、光电倍增管、密度滤光片等设置的不同,对测试结果的影响,并给出利用本装置测试荧光粉时应该注意的事项。
陈国龙薛浩张纪红吕毅军朱丽虹陈忠
关键词:荧光粉暗电流光电倍增管
两种高温老化方式对功率白光LED光热参数的影响被引量:6
2012年
测试和比较了大功率白光LED在高温耐电(HTCD)和高温存储(HTS)两种老化条件的光热性能变化。结果表明,在HTCD老化下,光通量衰减达到40~60%;而HTS下的衰减只有10~14%。这说明,电流应力对LED的寿命影响比较大。利用热阻瞬态响应法测试和结构函数理论分析两种高温老化条件下LED的热特性,结果表明,在HTCD老化下LED热阻的变化较HTS更为明显,并且热阻变化大多体现在导热Ag胶层。这主要是由于高温条件下电流应力引起Ag颗粒的空间分布不均,使粘结界面产生空隙导致热阻发生不同程度的改变。
薛浩陈国龙吕毅军高玉琳朱丽虹郭自泉蔡聪波陈忠林岳
关键词:LED热阻
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