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丁秋红

作品数:15 被引量:1H指数:1
供职机构:大连理工大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金大连市科技计划项目中央高校基本科研业务费专项资金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电气工程电子电信更多>>

文献类型

  • 12篇专利
  • 2篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信
  • 1篇电气工程

主题

  • 7篇功耗
  • 5篇低功耗
  • 4篇电路
  • 3篇单元电路
  • 3篇电平
  • 3篇上升沿
  • 3篇双稳
  • 3篇双稳态
  • 3篇跳变
  • 3篇检测电路
  • 3篇反相器
  • 3篇摆幅
  • 3篇TCAM
  • 3篇测试功耗
  • 3篇传输门
  • 3篇串联组合
  • 3篇存储器
  • 2篇单级
  • 2篇等效电容
  • 2篇电路制造

机构

  • 15篇大连理工大学
  • 1篇哈尔滨工业大...
  • 1篇黑龙江大学

作者

  • 15篇丁秋红
  • 12篇吴国强
  • 12篇张建伟
  • 12篇陈晓明
  • 9篇滕飞
  • 7篇李佳琪
  • 7篇马万里
  • 6篇郝文凯
  • 3篇王建
  • 3篇张修哲
  • 3篇李中洲
  • 2篇张建伟
  • 2篇陈晓明
  • 1篇周彬
  • 1篇李志远
  • 1篇滕飞
  • 1篇腾飞

传媒

  • 1篇哈尔滨工业大...
  • 1篇微电子学与计...

年份

  • 1篇2018
  • 4篇2017
  • 3篇2016
  • 3篇2015
  • 4篇2014
15 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
一种或型级联匹配线结构
本发明涉及一种匹配线结构,一种或型级联匹配线结构,由第一、二…N个单级OR型匹配线电路串联级联组成,所述每个单级OR型匹配线电路中包括比较控制模块、敏感放大器及第1、2…n个TCAM单元,所述比较控制模块与敏感放大器之间...
张建伟郑善兴吴国强陈晓明丁秋红滕飞马万里李佳琪王政操郝文凯
文献传递
一种区间匹配CAM单元电路及其组成的RCAM存储器
本实用新型涉及集成电路制造技术领域,一种区间匹配CAM单元电路及其组成的RCAM存储器,所述高电压摆幅大于区间匹配单元GERMC电路中,第五NMOS管MN5与第一PMOS管MP1互补组合,MP1栅极与D#端相连,源极与第...
张建伟殷存禄吴国强郑善兴丁秋红潘阿成李中洲吕文欢王建陈晓明苗延楠
文献传递
一种低匹配线电容的TCAM单元
本发明涉及一种TCAM单元,一种低匹配线电容的TCAM单元,包括MOS管MN1、MN2、MN3、MN4、MN5及反相器T1、T2、T3、T4,所述T1输出端与T2输入端相连作为存储数据D端,T1输入端与T2输出端相连作为...
张建伟郑善兴吴国强陈晓明丁秋红滕飞马万里李佳琪王政操郝文凯
文献传递
上升沿检测电路
本实用新型公开一种上升沿检测电路,由双稳态存储单元、非对称延迟单元、反相器和多个NMOS晶体管组成,只要非对称延迟电路满足上升沿延迟与下降沿延迟之和大于输入信号的脉冲周期且下降沿延迟很小时,就能够产生最大脉宽接近输入信号...
张建伟张修哲吴国强陈晓明苗延楠郑善兴丁秋红潘阿成滕飞李佳琪郑钰芷
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基于单双跳变的低功耗确定性BIST及种子压缩方法
本发明涉及大规模数字集成电路技术领域,一种基于单双跳变的低功耗确定性BIST及种子压缩方法,一方面,为了降低测试功耗,本发明使用了一种新型的单双跳变单元和ROM存储的控制信号通过单双混合跳变来生成确定性种子,然后利用单跳...
张建伟丁秋红吴国强陈晓明滕飞马万里王政操郝文凯
文献传递
一种低功耗、抗软错误的TCAM系统设计被引量:1
2015年
为了改善TCAM在深亚微米时代严重的软错误现象以及加固所带来的高功耗问题,改进了一种基于刷新机制的TCAM结构.通过级联式NAND型TCAM匹配线降低系统功耗,左右半区分工模式的双汉明编码和译码纠错电路确保系统可以对部分两位翻转进行纠错,三管DRAM的引入大大降低了由汉明码纠错带来的复杂时序.仿真结果表明,该结构对所有一位软错误有极强的免疫力,对部分两位软错误有纠错能力.与加固前相比,搜索功耗只增加了29.8%,写入速度和搜索速度基本没受影响.该结构极大地增强了低功耗TCAM的抗软错误能力.
张建伟潘阿成郑善兴丁秋红腾飞陈晓明苗延楠
关键词:TCAM刷新低功耗
一种或型级联匹配线结构
本发明涉及一种匹配线结构,一种或型级联匹配线结构,由第一、二…N个单级OR型匹配线电路串联级联组成,所述每个单级OR型匹配线电路中包括比较控制模块、敏感放大器及第1、2…n个TCAM单元,所述比较控制模块与敏感放大器之间...
张建伟郑善兴吴国强陈晓明丁秋红滕飞马万里李佳琪王政操郝文凯
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一种采用单双跳变的低功耗确定性BIST方案
2016年
为实现低功耗和高故障覆盖率,基于单跳变测试技术和2-bit扭环计数器,提出一种新型的单双跳变的确定性测试向量产生器.首先,与一般的确定性测试方案直接存储确定性种子不同,利用ROM存储控制信号并通过单双跳变生成确定性种子和确定性测试向量,这样控制信号的长度约为确定性种子的1/2,有利于降低功耗并节约存储空间.其次,2-bit减法计数器合理地过滤了冗余向量,大大缩短了测试时间并降低总体能耗.最后,为了适应不同的测试需求,还设计了相应的测试向量压缩算法和三种x指定算法.实验结果表明,平均功耗分别降低了42.36%、32.32%、38.94%,测试长度分别减少了77.6%、86.1%、84.3%,测试数据分别压缩了79.4%、65.2%、68.1%.
张建伟丁秋红周彬滕飞马万里王政操陈晓明李志远
关键词:低功耗
一种区间匹配CAM单元电路及其组成的RCAM存储器
本发明涉及集成电路制造技术领域,一种区间匹配CAM单元电路及其组成的RCAM存储器,所述高电压摆幅大于区间匹配单元GERMC电路中,第五NMOS管MN5与第一PMOS管MP1互补组合,MP1栅极与D#端相连,源极与第三输...
张建伟殷存禄吴国强郑善兴丁秋红潘阿成李中洲吕文欢王建陈晓明苗延楠
文献传递
上升沿检测电路
本发明公开一种上升沿检测电路,由双稳态存储单元、非对称延迟单元、反相器和多个NMOS晶体管组成,只要非对称延迟电路满足上升沿延迟与下降沿延迟之和大于输入信号的脉冲周期且下降沿延迟很小时,就能够产生最大脉宽接近输入信号脉冲...
张建伟张修哲吴国强陈晓明苗延楠郑善兴丁秋红潘阿成滕飞李佳琪郑钰芷
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