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罗琴
作品数:
7
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供职机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所
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相关领域:
金属学及工艺
自动化与计算机技术
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合作作者
黄创绵
中国电子产品可靠性与环境试验研...
胡湘洪
中国电子产品可靠性与环境试验研...
姚珂
中国电子产品可靠性与环境试验研...
李坤兰
中国电子产品可靠性与环境试验研...
邱森宝
中国电子产品可靠性与环境试验研...
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中国电子产品...
作者
7篇
罗琴
7篇
黄创绵
5篇
胡湘洪
4篇
姚珂
3篇
李坤兰
1篇
邱森宝
年份
1篇
2021
1篇
2020
1篇
2019
2篇
2018
2篇
2017
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涂层的耐腐蚀性测试方法及其应用
本发明涉及一种涂层的耐腐蚀性测试方法及其应用。该涂层的耐腐蚀性能测试方法包括:交替对样品进行紫外老化测试及盐雾测试,且紫外老化测试和盐雾测试均至少进行6次;紫外老化测试包括交替对样品进行紫外辐照试验及冷凝试验,且紫外辐照...
张洪彬
苏少燕
姚珂
罗琴
黄创绵
王春辉
汪凯蔚
李锴
张博
半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统
本发明涉及一种半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统,包括以下步骤:获取试验样品,对试验样品进行失效检测并分类,得到合格样品集和失效样品集,对合格样品集进行贮存可靠性特征检测分析得到第一分析结果,对失效样品集进行失效分...
罗琴
李坤兰
姚珂
黄创绵
胡湘洪
涂层的耐腐蚀性测试方法及其应用
本发明涉及一种涂层的耐腐蚀性测试方法及其应用。该涂层的耐腐蚀性能测试方法包括:交替对样品进行紫外老化测试及盐雾测试,且紫外老化测试和盐雾测试均至少进行6次;紫外老化测试包括交替对样品进行紫外辐照试验及冷凝试验,且紫外辐照...
张洪彬
苏少燕
姚珂
罗琴
黄创绵
王春辉
汪凯蔚
李锴
张博
半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统
本发明涉及一种半导体分立器件贮存寿命特征检测方法和系统,包括以下步骤:获取试验样品,对试验样品进行失效检测并分类,得到合格样品集和失效样品集,对合格样品集进行贮存可靠性特征检测分析得到第一分析结果,对失效样品集进行失效分...
罗琴
李坤兰
姚珂
黄创绵
胡湘洪
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电荷放大器贮存寿命预测方法、装置、存储介质和计算机设备
本发明涉及一种电荷放大器贮存寿命预测方法、装置、存储介质和计算机设备。首先获取电荷放大器贮存寿命的特征参数以及特征参数对应的特征数据序列,当特征数据序列单调递减且特征数据序列中的特征数据值大于特征参数的预设失效阈值时,将...
李坤兰
张博
邱森宝
胡湘洪
王春辉
黄创绵
罗琴
文献传递
电子组件振动应力的分析方法及系统
本发明涉及一种电子组件振动应力的分析方法及系统,电子组件振动应力的分析方法,包括以下步骤:根据电子组件的预设热边界条件和非线性热学参数进行瞬态热分析求解,得到瞬态温度场;基于瞬态温度场,确定电子组件的结构边界条件;根据结...
罗琴
黄创绵
潘广泽
胡湘洪
王春辉
汪凯蔚
李小兵
文献传递
电子组件振动应力的分析方法及系统
本发明涉及一种电子组件振动应力的分析方法及系统,电子组件振动应力的分析方法,包括以下步骤:根据电子组件的预设热边界条件和非线性热学参数进行瞬态热分析求解,得到瞬态温度场;基于瞬态温度场,确定电子组件的结构边界条件;根据结...
罗琴
黄创绵
潘广泽
胡湘洪
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汪凯蔚
李小兵
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