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章晓文

作品数：95 被引量：101H指数：5
供职机构：工业和信息化部电子第五研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室基金广东省自然科学基金更多>>
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传媒

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地区

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恩云飞
供职机构：工业和信息化部电子第五研究所
研究主题：可靠性 集成电路 单粒子效应 木马 电迁移
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
林晓玲
供职机构：工业和信息化部电子第五研究所
研究主题：集成电路 芯片 可靠性 铜互连 SIGE_HBT
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
孔学东
供职机构：信息产业部电子第五研究所
研究主题：可靠性 集成电路 裸芯片 VLSI SIGE_HBT
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
何玉娟
供职机构：工业和信息化部电子第五研究所
研究主题：总剂量效应 MOS器件 总剂量辐照 绝缘体上硅 SOI
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
何小琦
供职机构：信息产业部电子第五研究所
研究主题：可靠性 焊点 热阻 行波管 元器件
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
陆裕东
供职机构：信息产业部电子第五研究所
研究主题：电迁移 焊点 可靠性 BAPBO3 导电陶瓷
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
陈义强
供职机构：信息产业部电子第五研究所
研究主题：电迁移 集成电路 预警信号 MOS管 TDDB
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
李斌
供职机构：华南农业大学食品学院
研究主题：茶树 纳米硒 茶叶 绿茶 咖啡碱
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刘远
供职机构：广东工业大学
研究主题：低频噪声 薄膜晶体管 电路 MOS器件 集成电路
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
陈蒲生
供职机构：华南理工大学理学院应用物理系
研究主题：SIO XN 介质膜 热氮化 PECVD法
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