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刘炜
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
研究主题:集成电路 集成电路测试 并行测试 模数转换器 管芯
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
石志刚
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
研究主题:集成电路 集成电路测试 并行测试 芯片测试 模数转换器
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
赵智昊
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
研究主题:集成电路测试 集成电路 并行测试 测试数据 测试适配器
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
孙博
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
研究主题:集成电路测试 集成电路 并行测试 测试数据 测试适配器
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
孙杨
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
研究主题:集成电路测试 集成电路 并行测试 测试数据 测试适配器
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
王慧
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
研究主题:集成电路测试 集成电路 并行测试 测试数据 测试适配器
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
吉国凡
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
研究主题:集成电路 并行测试 集成电路测试 管芯 芯片测试
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
张琳
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
研究主题:集成电路测试 集成电路 并行测试 芯片测试 模数转换器
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
金兰
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
研究主题:集成电路测试 集成电路 并行测试 管芯 晶圆
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
赵伟
供职机构:北京华大泰思特半导体检测技术有限公司
研究主题:集成电路 号码 信息转换 内部存储器 芯片测试
发表作品相关人物供职机构所获资助研究领域
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