孙科
- 作品数：7 被引量：9H指数：1
- 供职机构：合肥工业大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金安徽省高校省级自然科学研究项目安徽省高校青年教师科研资助计划项目更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
- 基于双模冗余令牌的自恢复控制器
- 为了提高自恢复控制器特别是其令牌寄存器对软错误的容忍能力，本文提出了基于双模冗余令牌的DMR—Token 自恢复结构。该结构对令牌寄存器进行了双模冗余加固，当状态寄存器发生软错误时可以通过自恢复机制实现容错，而当令牌寄存...
- 孙科梁华国黄正峰
- 关键词：双模冗余软错误
- 文献传递
- 一种容软错误的高可靠BIST结构
- 针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误成为芯片失效的主导原因,文中给出一种容软错误的高可靠BIST结构:FT-CBILBO。该结构首先对并发内建逻辑块观察器（CBILBO）进行改进,通过对多输入特征寄存器进行功能复用,构...
- 黄正峰梁华国陈田詹文法孙科
- 关键词：软错误功能复用
- 文献传递
- 一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法
- 一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法，其特征是将测试向量级联后，根据确定位的个数进行分段，使每段的长度正好是2的幂次数，而且每段所包含的确定位的个数都等于或者小于且最接近于一个确定的常数k，再通过线性反...
- 梁华国詹文法王保青蒋翠云黄正峰易茂祥欧阳一鸣陈田李扬刘军孙科
- 文献传递
- 基于令牌加固的自恢复容错控制器设计研究
- 随着集成电路的特征尺寸进入纳米量级，持续降低的工作电压、急剧升高的工作频率以及明显提高的集成密度等原因，导致软错误率快速攀升。作为集成电路关键的应用领域之一，也是微处理器的核心部分，控制器对于软错误的容忍能力直接决定了微...
- 孙科
- 关键词：容错控制器双模冗余软错误大规模集成电路
- 文献传递
- 一种容软错误的BIST结构被引量：9
- 2009年
- 针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因,提出一种容软错误的BIST结构——FT-CBILBO.该结构对并发内建逻辑块观察器进行改进,通过对多输入特征寄存器进行功能复用,构建双模冗余的容错微结构,并且能有效地降低开销;在触发器输出端插入C单元,可有效地针对单事件翻转进行防护,阻塞瞬态故障引发的软错误.在UMC0.18μm工艺下的实验结果表明,FT-CBILBO面积开销为28.37%～33.29%,性能开销为4.99%～18.20%.
- 黄正峰梁华国陈田詹文法孙科
- 关键词：软错误功能复用
- 一种基于三模冗余令牌的自恢复控制器
- 2009年
- 针对集成电路特征尺寸进入纳米级后软错误率持续攀升的问题,本文以状态机拆分和三模冗余令牌为基础,提出更为可靠的自恢复控制器结构,并对典型基准电路进行了故障注入和仿真综合实验。结果表明,该结构以很小的硬件代价取得了更好的容错效果。
- 孙科梁华国黄正峰王伟
- 关键词：自恢复三模冗余令牌
- 一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法
- 一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法，其特征是将测试向量级联后，根据确定位的个数进行分段，使每段的长度正好是2的幂次数，而且每段所包含的确定位的个数都等于或者小于且最接近于一个确定的常数k，再通过线性反...
- 梁华国詹文法王保青蒋翠云黄正峰易茂祥欧阳一鸣陈田李扬刘军孙科
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