任艳
- 作品数：23 被引量：34H指数：3
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 发文基金：国家科技支撑计划国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程自动化与计算机技术经济管理更多>>
- MEMS可靠性评估方法
- 本发明涉及一种MEMS可靠性评估方法，上述MEMS可靠性评估方法，包括如下步骤：获取MEMS的悬臂梁失效率、芯片失效率以及封装失效率；对MEMS内的元器件进行测量，获取所述MEMS的振动系数、温度系数、温度幅值系数、循环...
- 任艳
- 文献传递
- SLD器件可靠性评估方法
- 本发明涉及一种SLD器件可靠性评估方法，包括：获取SLD器件内管芯的基本失效率和温度系数，并将管芯的基本失效率和温度系数的乘积转换为管芯的失效参数；获取SLD器件内光纤焊点的耦合失效率，生成光纤焊点的失效参数；获取SLD...
- 史典阳李海军聂国建任艳周军连于迪
- 照明灯生命周期环境影响分析
- 2014年
- 主要针对当前市场上存在的三种类别家用照明灯进行生命周期环境影响的分析。从原材料的选用、制造加工、使用、回收四个阶段分析比较了白炽灯、荧光灯、发光二极管(LED)灯对环境影响,并得出结论,LED灯是三种类型灯中的最绿色选择。
- 史典阳任艳于迪
- 关键词：LED灯环境影响
- 超辐射发光二极管SLD可靠性浅谈被引量：2
- 2015年
- 随武器装备向高可靠性发展,SLD作为光纤陀螺的关键器件得到了迅速的发展,分析了SLD产品的主要失效模式与失效机理,并在介绍了国内外SLD产品的可靠性以及当前国内进行的SLD加速试验情况后,提出了建立SLD预计模型的迫切性,最后给出了SLD可靠性预计初步模型。
- 王琳史典阳任艳于迪
- 关键词：SLD
- 基于加速寿命试验的SLD可靠性预计模型研究被引量：4
- 2018年
- 超辐射发光二极管(SLD)已广泛应用于航空、航天等多个领域,但其预计模型的缺失使得SLD的可靠性分析工作缺乏有效指导。本文基于SLD主要失效模式、失效机理以及典型诱发应力,构建SLD可靠性预计模型,开展加速寿命试验,利用性能退化可靠性评估技术、图估计、最优线性无偏估计等方法对试验数据进行分析处理,确定管芯预计模型参数,应用国内外已有耦合、热阻及制冷器可靠性预计技术,确定管芯耦合及组件预计模型系数的表征,从而完成SLD可靠性预计模型的建立,为SLD工程应用过程中的可靠性分析工作提供技术参考。
- 杨云任艳于迪周军连戴泽林
- 关键词：光学器件超辐射发光二极管可靠性加速寿命试验
- 用于PCB协同设计的电子元器件数据模板化研究
- 2018年
- 针对当前电子元器件数据资源难以直接支撑协同设计工作的开展的现状,对用于PCB协同设计的主流仿真软件工具的输入需求进行了梳理。在此基础上,研究了各种软件工具建立数字样机所需的元器件数据,详细地分析论证了各项数据作为实际仿真输入的必要性,形成了协同设计主要工作项目电子元器件数据输入模板,包括信号完整性仿真、热设计和降额设计。研究结果不仅有助于简化仿真流程,提高协同设计效率,同时还为协同仿真数据资源库的建设奠定了基础。
- 陈勇张鹏南任艳戴泽林
- 关键词：协同设计电子元器件
- 三种电光源生命周期环境影响分析被引量：1
- 2014年
- 随着人们环境保护意识的增强,选用的电光源也日益环保。为探明当前市场上存在的三种类别家用电光源的环境性能,采用生命周期评价方法 (LCA)从原材料的选用、制造加工、使用、回收四个阶段分别比较了白炽灯、荧光灯、LED灯对环境的影响。
- 史典阳黄晖任艳陈冰泉
- 关键词：LED灯具环境影响
- 基于加速寿命试验的IGBT可靠性预计模型研究被引量：13
- 2017年
- 随着电子元器件技术的不断发展,绝缘栅双极晶体管(IGBT)已得到了越来越广泛的应用,但其预计模型的缺失或不完善使得用户在可靠性分析过程中缺乏指导,影响工作的完整性和准确性。基于国内IGBT芯片外购、自主封装的研制生产现状及工程应用主要的失效模式、机理,结合国内外主流预计标准及评估方法,建立国产IGBT可靠性预计模型架构。选择典型IGBT开展温度循环试验,利用对数正态分布下的图估计法、最优线性无偏估计及最小二乘法对试验数据进行分析处理,确定封装模型系数定量表征,应用国外芯片失效数据确定芯片模型系数表征,从而完成国产IGBT可靠性预计模型建立,为国产元器件工程应用过程中的可靠性定量分析提供技术参考。
- 任艳彭琦于迪周军连
- 关键词：绝缘栅双极晶体管加速寿命试验
- 元器件应力定量表征技术概述
- 2015年
- 针对当前元器件在使用过程中常见的应力包括热循环和电应力对元器件可靠性影响及失效机理进行了介绍,并概述了当前主流预计标准和相关文献中对上述应力影响的定量表征模型。
- 王琳于迪任艳史典阳
- 关键词：热循环
- LED寿命评估方法概述
- 介绍了LED产品当前及未来可用的寿命评估方法,包括试验测试、预计模型、模型融合用户数据以及基于失效物理的寿命评估方法,其中模型融合用户数据和基于失效物理的寿命评估方法目前应用尚不广泛,但可为当前高准确度要求下的LED寿命...
- 于迪任艳余昭杰史典阳
- 关键词：LED灯数据融合失效物理
