于迪
- 作品数：24 被引量：44H指数：4
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程理学更多>>
- 基于加速寿命试验的IGBT可靠性预计模型研究被引量：13
- 2017年
- 随着电子元器件技术的不断发展,绝缘栅双极晶体管(IGBT)已得到了越来越广泛的应用,但其预计模型的缺失或不完善使得用户在可靠性分析过程中缺乏指导,影响工作的完整性和准确性。基于国内IGBT芯片外购、自主封装的研制生产现状及工程应用主要的失效模式、机理,结合国内外主流预计标准及评估方法,建立国产IGBT可靠性预计模型架构。选择典型IGBT开展温度循环试验,利用对数正态分布下的图估计法、最优线性无偏估计及最小二乘法对试验数据进行分析处理,确定封装模型系数定量表征,应用国外芯片失效数据确定芯片模型系数表征,从而完成国产IGBT可靠性预计模型建立,为国产元器件工程应用过程中的可靠性定量分析提供技术参考。
- 任艳彭琦于迪周军连
- 关键词：绝缘栅双极晶体管加速寿命试验
- 元器件应力定量表征技术概述
- 2015年
- 针对当前元器件在使用过程中常见的应力包括热循环和电应力对元器件可靠性影响及失效机理进行了介绍,并概述了当前主流预计标准和相关文献中对上述应力影响的定量表征模型。
- 王琳于迪任艳史典阳
- 关键词：热循环
- LED寿命评估方法概述
- 介绍了LED产品当前及未来可用的寿命评估方法,包括试验测试、预计模型、模型融合用户数据以及基于失效物理的寿命评估方法,其中模型融合用户数据和基于失效物理的寿命评估方法目前应用尚不广泛,但可为当前高准确度要求下的LED寿命...
- 于迪任艳余昭杰史典阳
- 关键词：LED灯数据融合失效物理
- 一种片上系统片外互连可靠性仿真技术研究被引量：2
- 2020年
- 结合国内SoC虚拟化验证体系的现状,梳理总结出了SoC片外互连可靠性仿真流程。并选取某型SoC开展片外互连可靠性仿真分析。通过开展热学仿真、振动仿真和寿命仿真等工作,最终得出了该型SoC的可靠性仿真结果,结果分析表明,该仿真方法满足实际的应用需求。
- 李欣荣雷庭于迪杨云王浩刘瑜珂
- 关键词：片上系统仿真
- SLD器件可靠性评估方法
- 本发明涉及一种SLD器件可靠性评估方法，包括：获取SLD器件内管芯的基本失效率和温度系数，并将管芯的基本失效率和温度系数的乘积转换为管芯的失效参数；获取SLD器件内光纤焊点的耦合失效率，生成光纤焊点的失效参数；获取SLD...
- 史典阳李海军聂国建任艳周军连于迪
- 照明灯生命周期环境影响分析
- 2014年
- 主要针对当前市场上存在的三种类别家用照明灯进行生命周期环境影响的分析。从原材料的选用、制造加工、使用、回收四个阶段分析比较了白炽灯、荧光灯、发光二极管(LED)灯对环境影响,并得出结论,LED灯是三种类型灯中的最绿色选择。
- 史典阳任艳于迪
- 关键词：LED灯环境影响
- 片上系统可靠性的虚拟化验证现状研究被引量：2
- 2019年
- 结合国内外片上系统可靠性的虚拟化验证现状,总结出了国内在该领域存在的主要问题和差距,并提出了相关的改进建议;分析梳理出了国外常见的虚拟化验证架构及思路,可为开展片上系统可靠性虚拟化验证工作的相关科研人员提供技术参考。
- 芈小龙李欣荣于迪徐洁芬杨云王浩雷庭
- 关键词：片上系统可靠性
- 关于电子元器件质量数据资源建设思路的探讨被引量：2
- 2020年
- 针对当前国内电子元器件质量数据资源建设中存在的数据分散、数据应用欠缺等问题,以电子元器件"研、用、管"各方的实际需求为基础,从数据资源体系构建、数据采集与规范化、数据管理与应用三方面入手,对电子元器件全寿命周期质量数据资源的建设思路进行了探讨,为行业质量监管与提升、数据共享与交流、数据应用与服务的实现提供了理论支撑。
- 王浩黄志华聂国健郑丽香杨云于迪李欣荣
- 关键词：电子元器件数据资源建设
- 超辐射发光二极管SLD可靠性浅谈被引量：2
- 2015年
- 随武器装备向高可靠性发展,SLD作为光纤陀螺的关键器件得到了迅速的发展,分析了SLD产品的主要失效模式与失效机理,并在介绍了国内外SLD产品的可靠性以及当前国内进行的SLD加速试验情况后,提出了建立SLD预计模型的迫切性,最后给出了SLD可靠性预计初步模型。
- 王琳史典阳任艳于迪
- 关键词：SLD
- SLD器件可靠性评估方法
- 本发明涉及一种SLD器件可靠性评估方法，包括：获取SLD器件内管芯的基本失效率和温度系数，并将管芯的基本失效率和温度系数的乘积转换为管芯的失效参数；获取SLD器件内光纤焊点的耦合失效率，生成光纤焊点的失效参数；获取SLD...
- 史典阳李海军聂国建任艳周军连于迪
- 文献传递
