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文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 1篇电参数
  • 1篇电参数测试
  • 1篇应力
  • 1篇软件实现
  • 1篇驱动器
  • 1篇自动加载
  • 1篇温度应力
  • 1篇模拟IC
  • 1篇接口
  • 1篇激活能
  • 1篇加速退化试验
  • 1篇加载
  • 1篇光耦
  • 1篇OFFICE
  • 1篇VBA
  • 1篇VISA
  • 1篇GPIB接口
  • 1篇参数测试
  • 1篇测试仪器
  • 1篇EXCEL

机构

  • 3篇中国电子科技...
  • 1篇信息产业部电...

作者

  • 3篇蔡建荣
  • 2篇邱忠文
  • 1篇刘大永
  • 1篇杨少华
  • 1篇邓永芳
  • 1篇李晓红
  • 1篇李勇

传媒

  • 2篇电子技术与软...
  • 1篇电子产品可靠...

年份

  • 1篇2017
  • 2篇2016
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
一种实现光耦电参数测试的方法研究被引量:1
2016年
本文介绍了用一种用AD5522微处理芯片设计的光耦集成测试系统,同时根据光耦电参数的特点,结合外围电路,讲解了光耦多种电参数测试的实现方法,用以快速、准确判别光耦电性能。通过加压测压和加流测压方法的实现,另外通过GBIP接口进行外挂测试仪表(如程控示波器、程控数字表)的控制,弥补测试系统测试资源和测量精度不足的缺陷。通过编写相应的测试程序指令,实现光耦测试条件的自动加载,同时对多个参数测试结果采样、记录、并自动生成测试数据库表格,从而可快速完成光耦全参数的测试,提高检测效率。
蔡建荣邱忠文吴兆希
关键词:光耦自动加载GPIB接口
恒定温度应力下的模拟IC加速退化试验研究被引量:1
2016年
研究了在不同恒定温度应力条件下某型号驱动器的模拟集成电路的加速退化试验。首先,确定了该型驱动器的敏感参数,并建立了敏感参数的退化模型;然后,计算得到了器件在加速应力下的伪寿命;最后,利用阿伦尼斯模型对伪寿命数据进行分析,外推得到了器件的激活能及其在正常工作应力条件下的寿命信息。
吴兆希李晓红邓永芳蔡建荣杨少华
关键词:加速退化试验激活能驱动器
使用Office软件实现测试仪器控制
2017年
介绍利用Office办公软件内嵌VBA对仪器设备进行编程,利用VISA与仪器硬件接口无关的特性,用计算机USB接口实现与LCR测试仪、数字多用表等的USB接口、GPIB接口进行通讯的控制方法。该方法利用了VISA的标准化及办公软件的丰富资源简化了程序设计,利用办公软件易用的特点降低了使用软件进行测试的难度。
邱忠文刘大永蔡建荣李勇
关键词:VISAVBAEXCEL
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