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文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇数值模拟
  • 1篇塑封
  • 1篇金线
  • 1篇封装
  • 1篇SSO
  • 1篇IC封装
  • 1篇P-
  • 1篇值模拟

机构

  • 1篇上海工程技术...

作者

  • 1篇吴文云
  • 1篇杨尚磊
  • 1篇周海贝
  • 1篇曹阳根
  • 1篇安静
  • 1篇莫佳敏

传媒

  • 1篇半导体技术

年份

  • 1篇2014
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
SSOP-20L塑封浇口参数对金线偏移的影响被引量:2
2014年
研究了IC塑封浇注系统对金线偏移的影响,通过数值模拟对金线偏移现象进行理论分析与预测,以金线偏移量最小为标准,对浇口参数进行优化。在模拟优化的基础上设计制造了不同浇口参数的模具镶件,对模拟结果进行实际验证。实验中采用X射线检测技术,提出了一种新的对金线偏移程度观测的方法。结果表明:型腔压力随浇口厚度H的增加而变小,入射角α的变化对压力的影响相对较小;厚度为0.25 mm,入射角为50°的浇口尺寸为最优;浇口厚度为0.25 mm,入射角为50°时的金线实际偏移量平均值为0.049 mm,金线偏移程度最小;浇口厚度为0.25 mm,入射角为30°时,金线实际偏移平均值为0.072 mm,金线偏移程度最大。
安静曹阳根杨尚磊吴文云莫佳敏周海贝吴恺威
关键词:IC封装数值模拟
共1页<1>
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