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文献类型

  • 4篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇电子电信

主题

  • 2篇夹具
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子烧毁
  • 1篇单粒子效应
  • 1篇调节机构
  • 1篇引脚
  • 1篇元器件
  • 1篇粘附
  • 1篇溶胶
  • 1篇施压
  • 1篇竖直
  • 1篇水溶胶
  • 1篇通用夹具
  • 1篇轻量
  • 1篇轻量化
  • 1篇装夹
  • 1篇装载
  • 1篇组件
  • 1篇围合
  • 1篇限位

机构

  • 5篇中国电子科技...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 5篇陈佳
  • 4篇罗俊
  • 2篇唐毅
  • 2篇张锋
  • 1篇谭开洲
  • 1篇唐昭焕
  • 1篇王斌
  • 1篇乔哲

传媒

  • 1篇微电子学

年份

  • 4篇2024
  • 1篇2014
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
一种元器件水溶胶清洗设备
本发明公开了一种元器件水溶胶清洗设备,包括具有一清洗腔的架体、设于所述清洗腔内以用于装载元器件的装载部、分布于所述装载部上方并能沿着装载部往复移动的滚筒刷以及用于控制所述滚筒刷工作的控制装置和用于调节所述滚筒刷高度的升降...
吴奕漠段大川唐毅应广祺张峻山陈佳罗俊陈湘渝
基于锎源的N沟道VDMOS器件单粒子效应研究被引量:3
2014年
分析了N沟道VDMOS器件的单粒子辐射损伤机理和损伤模式,讨论了VDMOS器件的单粒子辐射加固措施。使用锎源,对采取了加固措施的一款200V高压N沟道VDMOS器件进行单粒子效应试验研究。对比分析了不同漏源电压和栅源电压以及不同真空度对VDMOS单粒子效应的影响,可为VDMOS器件的单粒子辐射加固、试验验证及应用提供参考。
陈佳乔哲唐昭焕王斌谭开洲
关键词:VDMOS单粒子效应单粒子烧毁
一种PIND试验夹具及固定方法
本发明公开了一种PIND试验夹具及固定方法,包括支架和施压件,所述支架包括交会部和设于所述交会部外周的若干固定臂,若干固定臂共同围合成一位于所述交会部下方的供待测器件放入的容纳空间;所述施压件可拆卸设于所述交会部并可相对...
陈佳王钢荣张锋吴奕漠张峻山应广祺罗俊
一种扁平封装器件的加速离心试验通用夹具
本发明公开了一种扁平封装器件的加速离心试验通用夹具,包括用于安装于离心机上的底板、设置在所述底板上的支撑座、铰接在所述支撑座的第一侧的盖板、滑动设置在所述支撑座上的调节机构以及穿设在所述盖板上的压紧机构,所述支撑座上与第...
张峻山唐毅应广祺张锋王钢荣吴奕漠陈佳罗俊陈湘渝
一种芯片振动试验用夹具
本发明公开了一种芯片振动试验用夹具,芯片的下端面设置有若干引脚,包括底座、水平限位组件和压持组件,水平限位组件包括若干边限位件,若干所述边限位件基于各个待限位芯片的形状及尺寸,可拆卸地设置于所述底座上的对应位置处;其中,...
吴奕漠应广祺张峻山陈佳罗俊
共1页<1>
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